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安立网分怎么给测试板去嵌-Anritsu技术支持中心
安立（Anritsu）网络分析仪（网分）的去嵌（De-embedding）功能，用于消除测试夹具、连接器或传输线对被测件（DUT）测量结果的影响。以下是安泰安立技术支持中心整理的通用操作指南：
一、去嵌原理与适用场景
原理：通过数学算法（如TRL、SOLT校准）去除测试夹具的S参数，仅保留DUT的真实响应。
适用场景：
测试高频器件（如PCB板载天线、滤波器）时，需消除微带线、SMA接头等引入的相位/幅值误差。
批量测试中统一补偿夹具差异，提高一致性。
二、操作步骤（以MS46122A/B系列为例）
1. 前期准备
校准件：准备SOLT（Short-Open-Load-Thru）或TRL（Thru-Reflect-Line）校准件。
测试夹具：确保夹具已安装DUT，并连接至网分Port1和Port2。
2. 进入去嵌菜单
按下 [System] → [Calibration] → [De-embedding]。
选择去嵌方法：
TRL：适用于非同轴环境（如PCB微带线），需测量Thru、Reflect、Line标准件。
SOLT：传统校准方法，需Short、Open、Load、Thru四件套。
3. 执行去嵌校准
测量标准件：
依次连接Thru、Reflect、Line（或SOLT四件套）至夹具，按 [Measure] 记录每个标准件的S参数。
生成去嵌文件：
输入标准件物理参数（如长度、介质常数），网分自动计算夹具的S参数模型。
应用去嵌：
返回主界面，选择 [De-embed] 加载生成的.s2p文件，确认后实时扣除夹具影响。
4. 验证去嵌效果
测量已知DUT（如校准过的衰减器），对比去嵌前后的S参数（如S21插入损耗）。
理想情况下，去嵌后数据应与DUT标称值一致（误差<±0.1dB）。
三、关键注意事项
1.夹具一致性：
确保测试夹具与校准件机械结构完全一致，避免因接触不良引入误差。
2.频率范围：
去嵌模型仅在标准件测量频段内有效，超出范围可能导致数据失真。
3.多次去嵌：
复杂夹具可分段去嵌（如先补偿SMA接头，再补偿微带线）。
4.软件辅助：
使用安立 “Network Master” 软件可离线优化去嵌模型，支持多端口网络分析。
四、故障排查
1.去嵌后数据异常：
检查标准件连接是否牢固，重新测量Thru/Reflect。
确认去嵌文件路径正确，未被其他数据覆盖。
2.无法进入去嵌菜单：
确认固件版本是否支持去嵌功能（部分入门型号需升级至V2.0以上）。
五、技术支持
资源下载：https://www.agitekservice.com/cpsc.html
服务热线：联系18682985902（同微信）获取技术支持。
